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eDR-7100

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The eDR-7100, an electron-beam wafer defect review and classification system that utilizes a fourth-generation immersion column and an advanced stage to quickly and accurately re-locate, image and classify yield-critical defects.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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