説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
OPTISTATION-3200 wafer inspection systemドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142261
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NIKON
OPTISTATION-3200
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Defect Inspection
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142261
ウェーハサイズ：
不明
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不明
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