説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Microspot Spectroscopic Ellipsometer Microspot spectroscopic ellipsometer of Semilab are capable of fully automated characterization of patterned, compound or (O)LED 300mm samples. Primary applications: - Front-end applications - Production wafer monitoring - Process development - Advanced Process Control: - Across wafer uniformity - Wafer to wafer uniformity - Batch to batch uniformityドキュメント
SEMILAB
SE-3000
検証済み
カテゴリ
Elipsometry
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
84893
ウェーハサイズ:
12"/300mm
ヴィンテージ:
2004
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
SEMILAB
SE-3000
カテゴリ
Elipsometry
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
84893
ウェーハサイズ:
12"/300mm
ヴィンテージ:
2004
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available