説明
Wafer Characterization構成
構成なしOEMモデルの説明
Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
IMPERIA
検証済み
カテゴリ
Metrology
最終検証： 15日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116288
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.ドキュメント
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