説明
-Microscope and Accessories (NIKON Laboratory) High Magnification OM Microscope Nikon ME600 -Lamp Base Malfunction構成
構成なしOEMモデルの説明
The microscope is primarily intended for inspection of wafers or chips after development and/or evaporation. It is equipped with an incident (epi) illuminating unit (light is coming from above the specimen) with a Differential Interference Contrast option. It is also equipped with Dark Field option.ドキュメント
ドキュメントなし
NIKON
ECLIPSE ME600
検証済み
カテゴリ
Microscope
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
100712
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
NIKON
ECLIPSE ME600
検証済み
カテゴリ
Microscope
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
100712
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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説明
-Microscope and Accessories (NIKON Laboratory) High Magnification OM Microscope Nikon ME600 -Lamp Base Malfunction構成
構成なしOEMモデルの説明
The microscope is primarily intended for inspection of wafers or chips after development and/or evaporation. It is equipped with an incident (epi) illuminating unit (light is coming from above the specimen) with a Differential Interference Contrast option. It is also equipped with Dark Field option.ドキュメント
ドキュメントなし