説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
"Semiconductor wafer inspection microscope (up to 200 mm) enabling fast, accurate inspection via motorized aperture stop interlocked with objective lens. Ergonomic design delivers operator comfort. SEMI S2/S8 compliance ensures safety and reliability."ドキュメント
ドキュメントなし
OLYMPUS
MX61-F
検証済み
カテゴリ
Microscope
最終検証： 16日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116402
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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