説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Epilayer uniformity defects and contamination, with automated wafer handling.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
RPM SIGMA
検証済み
カテゴリ
Photoluminescence Mapper
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
30671
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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不明
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