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CM300xi

カテゴリ
Probers
概要(Overview)

300 mm Semi-/ Fully-automated Probe System. The CM300xi is a wafer probe station for wafer sizes up to 300 mm (12 inch). It meets the measurement challenges brought on by extremely complex requirements, such as unattended testing on small pads over time and at multiple temperatures.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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