説明
Prober構成
構成なしOEMモデルの説明
300 mm Semi-/ Fully-automated Probe System. The CM300xi is a wafer probe station for wafer sizes up to 300 mm (12 inch). It meets the measurement challenges brought on by extremely complex requirements, such as unattended testing on small pads over time and at multiple temperatures.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Probers
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
121836
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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FORM FACTOR / CASCADE MICROTECH / FRT
CM300xi
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Probers
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
121836
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Prober構成
構成なしOEMモデルの説明
300 mm Semi-/ Fully-automated Probe System. The CM300xi is a wafer probe station for wafer sizes up to 300 mm (12 inch). It meets the measurement challenges brought on by extremely complex requirements, such as unattended testing on small pads over time and at multiple temperatures.ドキュメント
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