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SUSS MicroTec / KARL SUSS PA300
    説明
    8"/12" Probe station
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The PA300 is an analytical prober conforming to EN 61010 - 1: 1993-04 which corresponds to UL 3101-1: 1993 and IEC 1010-1: 1992. By means of the PA300 electrical measurements on wafers and substrates up to a diameter of 300mm can be made. The only electrical connection to the measuring object is through the probecard, the probehead and the chuck.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    SUSS MicroTec / KARL SUSS

    PA300

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Probers

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    100566


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm, 12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2004


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    PA300

    Probers
    ヴィンテージ: 2003状態: 中古
    最終確認60日以上前

    SUSS MicroTec / KARL SUSS

    PA300

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    検証済み
    カテゴリ
    Probers
    最終検証: 60日以上前
    listing-photo-211d25aacd5041ee9f46906edc741489-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/76656/211d25aacd5041ee9f46906edc741489/6a9c55047169443eb7473eb78e047242_fe9b6c4af6554886a8b27ed9ab746e731201a_mw.jpeg
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    listing-photo-211d25aacd5041ee9f46906edc741489-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/76656/211d25aacd5041ee9f46906edc741489/e4fbf524badd4847976545e115997dad_d37cc69236744622b933f01c10f653ba1201a_mw.jpeg
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    100566


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm, 12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2004


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    8"/12" Probe station
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The PA300 is an analytical prober conforming to EN 61010 - 1: 1993-04 which corresponds to UL 3101-1: 1993 and IEC 1010-1: 1992. By means of the PA300 electrical measurements on wafers and substrates up to a diameter of 300mm can be made. The only electrical connection to the measuring object is through the probecard, the probehead and the chuck.
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