説明
Docked Teradyne Tester IP750EP, J750EX SACC (cart move type) Hot Chuck (Nickel) Needle Cleaning Unit (150mm x 150mm) GPIB interface Temperature range : based on the configuration. (Hot only)構成
構成なしOEMモデルの説明
Precio nano™ is a 300mm wafer prober that realizes high accuracy contact and cleanness under high load. In the probing process, demand for probing technology has diversified as process miniaturization, high function/high integration devices and packages are changing.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Probers
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
137149
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2011
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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TEL / TOKYO ELECTRON
PRECIO NANO
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最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
137149
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2011
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Docked Teradyne Tester IP750EP, J750EX SACC (cart move type) Hot Chuck (Nickel) Needle Cleaning Unit (150mm x 150mm) GPIB interface Temperature range : based on the configuration. (Hot only)構成
構成なしOEMモデルの説明
Precio nano™ is a 300mm wafer prober that realizes high accuracy contact and cleanness under high load. In the probing process, demand for probing technology has diversified as process miniaturization, high function/high integration devices and packages are changing.ドキュメント
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