説明
説明なし構成
Trinocular Microscope Head for KLA 2xx reticle inspection systemOEMモデルの説明
The KLA-259 System inspects images on transparent (quartz) substrates.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
259
検証済み
カテゴリ
Reticle / Mask Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
56594
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
1992
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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