説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Helios NanoLab 1200 Full Wafer DualBeam Technology for High Resolution Imaging, Analysis and TEM Sample Preparation for 300 mm Wafersドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138745
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
HELIOS NANOLAB 1200
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138745
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Helios NanoLab 1200 Full Wafer DualBeam Technology for High Resolution Imaging, Analysis and TEM Sample Preparation for 300 mm Wafersドキュメント
ドキュメントなし