説明
Hitachi S-4500 , Scanning electron microscope with EDX detector構成
構成なしOEMモデルの説明
The S-4500 with a semi-in-lens type objective lens and cold field emission electron source suited to high resolution microscopy that was well received in the market.ドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
S-4500
検証済み
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
114675
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
HITACHI
S-4500
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
114675
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Hitachi S-4500 , Scanning electron microscope with EDX detector構成
構成なしOEMモデルの説明
The S-4500 with a semi-in-lens type objective lens and cold field emission electron source suited to high resolution microscopy that was well received in the market.ドキュメント
ドキュメントなし