説明
FE SEM構成
構成なしOEMモデルの説明
Field Emission Scanning Electron Microscopeドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
S-4800 II
検証済み
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
41173
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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S-4800 II
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