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構成なしOEMモデルの説明
SMI3050SE is an FIB-SEM hybrid system equipped with an ion beam optical system and electron beam optical system newly developed in response to the shrink of semiconductor devices, enabling high-precision sample processing and observation in comparison to conventional systems.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
97700
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO
SMI3050SE
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
97700
ウェーハサイズ：
不明
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SMI3050SE is an FIB-SEM hybrid system equipped with an ion beam optical system and electron beam optical system newly developed in response to the shrink of semiconductor devices, enabling high-precision sample processing and observation in comparison to conventional systems.ドキュメント
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