説明
説明なし構成
TESCAN VEGA 1 - SMU - SED & BSED - LowVac OptionOEMモデルの説明
TESCAN VEGA’s 4th generation Scanning Electron Microscope (SEM) with tungsten filament electron source combines SEM imaging and live elemental composition analysis in a single window of TESCAN’s Essence™ software.ドキュメント
ドキュメントなし
TESCAN
VEGA
検証済み
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
83657
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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