説明
– Type II – with Oxford EDX Detector – Upgraded with: – Back scattered electrons detector – PCI Quartz system – Inca software構成
構成なしOEMモデルの説明
The S-4500 with a semi-in-lens type objective lens and cold field emission electron source suited to high resolution microscopy that was well received in the market.ドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
S-4500
検証済み
カテゴリ
SEM
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
34144
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
1996
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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HITACHI
S-4500
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
34144
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
1996
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説明
– Type II – with Oxford EDX Detector – Upgraded with: – Back scattered electrons detector – PCI Quartz system – Inca software構成
構成なしOEMモデルの説明
The S-4500 with a semi-in-lens type objective lens and cold field emission electron source suited to high resolution microscopy that was well received in the market.ドキュメント
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