説明
説明なし構成
With EDX Secondary electron image resolution: 1.0nm (15kV, WD=4mm) 1.4nm (1kV, WD=1.5mm, Deceleration mode) 2.0nm (1kV, WD-1.5mm, Normal mode) Magnification: LM mode: 20 ~ 2,000X HM mode: 100 ~ 800,000X Specimen Stage: Stage Motorization: 5 Axis Stage Motorization Type II: X: 0 ~ 110mm; Y: 0 ~ 110mm, Z: 1.5 ~ 40mm; T: -5 ~ +70 deg, R: 360 deg Configuration: Operating System: Windows XP (Windows 10 upgrade as an option) Turbo Pump Joy Stick stage control Decleration mode RS-232C Option: IXRF EDXOEMモデルの説明
Field Emission Scanning Electron Microscopeドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
S-4800 II
検証済み
カテゴリ
SEM
主なアイテムの詳細
状態：
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID：
74435
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
HITACHI
S-4800 II
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID：
74435
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
With EDX Secondary electron image resolution: 1.0nm (15kV, WD=4mm) 1.4nm (1kV, WD=1.5mm, Deceleration mode) 2.0nm (1kV, WD-1.5mm, Normal mode) Magnification: LM mode: 20 ~ 2,000X HM mode: 100 ~ 800,000X Specimen Stage: Stage Motorization: 5 Axis Stage Motorization Type II: X: 0 ~ 110mm; Y: 0 ~ 110mm, Z: 1.5 ~ 40mm; T: -5 ~ +70 deg, R: 360 deg Configuration: Operating System: Windows XP (Windows 10 upgrade as an option) Turbo Pump Joy Stick stage control Decleration mode RS-232C Option: IXRF EDXOEMモデルの説明
Field Emission Scanning Electron Microscopeドキュメント
ドキュメントなし