説明
ANALYTICAL EQUIPMENT構成
Apreo C LoVac FESEM with electrostatic final lens Resolution: 15kV – 1.0nm 1kV – 1.3nm 1kV (decel) 1.0nm Low Vacuum: 15kV - 1.2nm 3kV – 1.8nm -System includes EDXOEMモデルの説明
Scanning electron microscope for versatile, high performance materials imaging and analysis.ドキュメント
ドキュメントなし
THERMOFISHER SCIENTIFIC
Apreo 2 C
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
45182
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2018
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Apreo 2 C
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不明
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不明
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