説明
Scanning Electron Microscope (SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
Scanning electron microscope for versatile, high performance materials imaging and analysis.ドキュメント
ドキュメントなし
THERMOFISHER SCIENTIFIC
Apreo 2 C
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
68121
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC
Apreo 2 C
カテゴリ
SEM
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
68121
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Scanning Electron Microscope (SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
Scanning electron microscope for versatile, high performance materials imaging and analysis.ドキュメント
ドキュメントなし