説明
Film Thickness Monitor with JA Woolham Ellipsometer, for up to 300mm Open Cassettes構成
構成なしOEMモデルの説明
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 9日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153547
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 8300XSE
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 9日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153547
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Film Thickness Monitor with JA Woolham Ellipsometer, for up to 300mm Open Cassettes構成
構成なしOEMモデルの説明
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.ドキュメント
ドキュメントなし