説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Prometrix UV-1250SE Thin Film Measurement System is a tool that can measure film thickness, refractive index, extinction coefficient, and goodness-of-fit of single or multi-layer thin film stacks. It combines spectroscopic ellipsometry and broadband UV spectrophotometry for non-destructive optical characterization. This results in greater productivity and tighter process control.ドキュメント
ドキュメントなし
同様のリスト
すべて表示
KLA
UV-1250SE
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Deinstalled
製品ID：
147940
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Prometrix UV-1250SE Thin Film Measurement System is a tool that can measure film thickness, refractive index, extinction coefficient, and goodness-of-fit of single or multi-layer thin film stacks. It combines spectroscopic ellipsometry and broadband UV spectrophotometry for non-destructive optical characterization. This results in greater productivity and tighter process control.ドキュメント
ドキュメントなし