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KLA UV-1250SE
    説明
    METROLOGY
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Prometrix UV-1250SE Thin Film Measurement System is a tool that can measure film thickness, refractive index, extinction coefficient, and goodness-of-fit of single or multi-layer thin film stacks. It combines spectroscopic ellipsometry and broadband UV spectrophotometry for non-destructive optical characterization. This results in greater productivity and tighter process control.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    UV-1250SE

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    検証済み

    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    105801


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
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    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA UV-1250SE

    KLA

    UV-1250SE

    Thin Film / Film Thickness
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認15日前

    KLA

    UV-1250SE

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    検証済み
    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness
    最終検証: 60日以上前
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    構成
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    OEMモデルの説明
    The Prometrix UV-1250SE Thin Film Measurement System is a tool that can measure film thickness, refractive index, extinction coefficient, and goodness-of-fit of single or multi-layer thin film stacks. It combines spectroscopic ellipsometry and broadband UV spectrophotometry for non-destructive optical characterization. This results in greater productivity and tighter process control.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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