説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
An advanced automated optical metrology system from n&k Technology designed for non-destructive characterization and monitoring of thin film materials and semiconductor wafersドキュメント
ドキュメントなし
N & K
3300
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 3日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153189
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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