説明
X-ray Fluorescence Spectrometer構成
構成なしOEMモデルの説明
The 2830 ZT wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) wafer analyzer offers the ultimate capability for measuring film thickness and composition. Designed specifically for the semiconductor and data storage industry, the 2830 ZT Wafer Analyzer enables the determination of layer composition, thickness, dopant levels and surface uniformity for a wide range of wafers up to 300 mm.ドキュメント
ドキュメントなし
MALVERN PANALYTICAL
2830 ZT
検証済み
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 16日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
117920
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
MALVERN PANALYTICAL
2830 ZT
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 16日前
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状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
117920
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12"/300mm
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不明
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X-ray Fluorescence Spectrometer構成
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The 2830 ZT wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) wafer analyzer offers the ultimate capability for measuring film thickness and composition. Designed specifically for the semiconductor and data storage industry, the 2830 ZT Wafer Analyzer enables the determination of layer composition, thickness, dopant levels and surface uniformity for a wide range of wafers up to 300 mm.ドキュメント
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