説明
説明なし構成
Software Version: 14.3.0 CIM: SECS/GEM Process: CDSEM Main System: AMAT NanoSEM 3D (1) OK Handler System: ETU (1) OK Factory Interface: FOUP Dry Pump (2) OKOEMモデルの説明
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
ドキュメントなし
APPLIED MATERIALS (AMAT)
NANOSEM 3D
検証済み
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
111894
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2004
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NANOSEM 3D
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CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
111894
ウェーハサイズ：
12"/300mm
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2004
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Software Version: 14.3.0 CIM: SECS/GEM Process: CDSEM Main System: AMAT NanoSEM 3D (1) OK Handler System: ETU (1) OK Factory Interface: FOUP Dry Pump (2) OKOEMモデルの説明
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
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