説明
Wafer Inspection Equipment構成
構成なしOEMモデルの説明
Designed specifically for defect inspection and 2D metrology for LED applications, the ICOS WI-2280 also provides enhanced inspection capabilities and increased flexibility for microelectromechanical systems (MEMS) and semiconductor wafers spanning two inches to eight inches in size.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA / ICOS
WI-2280
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 15日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
113744
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ICOS
WI-2280
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 15日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
113744
ウェーハサイズ：
6"/150mm
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不明
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Wafer Inspection Equipment構成
構成なしOEMモデルの説明
Designed specifically for defect inspection and 2D metrology for LED applications, the ICOS WI-2280 also provides enhanced inspection capabilities and increased flexibility for microelectromechanical systems (MEMS) and semiconductor wafers spanning two inches to eight inches in size.ドキュメント
ドキュメントなし