説明
No missing構成
構成なしOEMモデルの説明
Designed specifically for defect inspection and 2D metrology for LED applications, the ICOS WI-2280 also provides enhanced inspection capabilities and increased flexibility for microelectromechanical systems (MEMS) and semiconductor wafers spanning two inches to eight inches in size.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
137485
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ICOS
WI-2280
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
137485
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
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No missing構成
構成なしOEMモデルの説明
Designed specifically for defect inspection and 2D metrology for LED applications, the ICOS WI-2280 also provides enhanced inspection capabilities and increased flexibility for microelectromechanical systems (MEMS) and semiconductor wafers spanning two inches to eight inches in size.ドキュメント
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