メインコンテンツにスキップ
Moov logo
Moov Icon
KLA eDR-5200
    説明
    Defect Review (SEM)
    構成
    2 LP+1 Chamber
    OEMモデルの説明
    The eDR-5200 features a lens system that delivers a significant improvement in resolution, meeting production and process development requirements for advanced design-rule semiconductor devices. Unique connectivity technology between the eDR-5200 and our market-leading inspection systems provides additional benefits to our customers with respect to defect redetection, classification and speed.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    eDR-5200

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ

    Defect Inspection
    最終検証： 60日以上前
    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    62883

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    2010

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
    すべて表示
    KLA eDR-5200
    KLAeDR-5200Defect Inspection
    ヴィンテージ： 2010状態： 中古
    最終確認60日以上前
    KLA eDR-5200
    KLAeDR-5200Defect Inspection
    ヴィンテージ： 2009状態： 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    eDR-5200

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ

    Defect Inspection
    最終検証： 60日以上前
    listing-photo-c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1877/c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325/8a29d860b3174c76bcc9df27e7d6f2e9_7ca18d287664487cabc472162b390b0b45005c_mw.jpeg
    listing-photo-c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1877/c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325/f879bebcd02f4981ac783198fe35367f_a558067385934a9e8a94afc42987b35d45005c_mw.jpeg
    listing-photo-c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1877/c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325/287a4bc84c6a4c0b90e38dc481229bde_ccd676a56d84415d9d96f7d1db1ecf6c45005c_mw.jpeg
    listing-photo-c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1877/c75e19480f3e4fc4b9fb0ae491f14325/98d237eb8c434c95ba906746ac6e73f1_2e5316baa0fd4530be9a34375f05d1e445005c_mw.jpeg
    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    62883

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    2010

    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    Defect Review (SEM)
    構成
    2 LP+1 Chamber
    OEMモデルの説明
    The eDR-5200 features a lens system that delivers a significant improvement in resolution, meeting production and process development requirements for advanced design-rule semiconductor devices. Unique connectivity technology between the eDR-5200 and our market-leading inspection systems provides additional benefits to our customers with respect to defect redetection, classification and speed.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    同様のリスト
    すべて表示
    KLA eDR-5200
    KLA
    eDR-5200
    Defect Inspectionヴィンテージ： 2010状態： 中古最終検証： 60日以上前
    KLA eDR-5200
    KLA
    eDR-5200
    Defect Inspectionヴィンテージ： 2009状態： 中古最終検証： 60日以上前