説明
E-beam Inspection構成
構成なしOEMモデルの説明
The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
eS805
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 16日前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
50097
ウェーハサイズ:
12"/300mm
ヴィンテージ:
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA
eS805
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 16日前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
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不明
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50097
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12"/300mm
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E-beam Inspection構成
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The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.ドキュメント
ドキュメントなし