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KLA eS805
    説明
    E-beam Inspection
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    eS805

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Defect Inspection

    最終検証: 16日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    50097


    ウェーハサイズ:

    12"/300mm


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA eS805

    KLA

    eS805

    Defect Inspection
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認16日前

    KLA

    eS805

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    検証済み
    カテゴリ
    Defect Inspection
    最終検証: 16日前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    50097


    ウェーハサイズ:

    12"/300mm


    ヴィンテージ:

    不明


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    E-beam Inspection
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The eS805 Series electron-beam wafer defect inspection systems capture physical and electrical defects on a broad range of materials, layers and structures and feature a new image computer, new auto-focus subsystem and higher beam current densities.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    KLA eS805

    KLA

    eS805

    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:16日前