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KLA SURFSCAN 6420
  • KLA SURFSCAN 6420
  • KLA SURFSCAN 6420
  • KLA SURFSCAN 6420
説明
説明なし
構成
構成なし
OEMモデルの説明
The Surfscan 6420 detects submicron defects on metal films and rough surfaces but still provides sensitivity down to 0.1 micron on polished silicon. It is effective for detecting defects on non-uniform films, a critical requirement for CMP applications.
ドキュメント

ドキュメントなし

verified-listing-icon

検証済み

カテゴリ
Defect Inspection

最終検証: 60日以上前

主なアイテムの詳細

状態:

Used


稼働ステータス:

不明


製品ID:

110356


ウェーハサイズ:

不明


ヴィンテージ:

不明


Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available

KLA

SURFSCAN 6420

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