説明
Wafer Surface Inspection構成
構成なしOEMモデルの説明
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
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KLA
2131
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
47113
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Wafer Surface Inspection構成
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In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
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