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SP1 DLS

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The Surfscan SP1DLS is an unpatterned wafer inspection system that detects defects down to 50nm and provides complete defectivity and haze information in a single scan. It uses dual-laser illumination and has an optional Backside Inspection Module. It supports 200mm and 300mm wafer sizes and meets 300mm factory automation requirements.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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