説明
説明なし構成
Wafer Patt InspectorOEMモデルの説明
The Optistation 7 IC Wafer Inspection System Dual, a 300mm fabrication compliant unit featuring a feeder arm transfer unit offering high throughput with a new macro illumination system allowing for thin film observation and defocus detection as well as detection of particulates and scratches on both front and backside.ドキュメント
ドキュメントなし
NIKON
OPTISTATION 7
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
71209
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Transaction Insured by Moov
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Refurbishment Services
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OPTISTATION 7
検証済み
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Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
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不明
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Wafer Patt InspectorOEMモデルの説明
The Optistation 7 IC Wafer Inspection System Dual, a 300mm fabrication compliant unit featuring a feeder arm transfer unit offering high throughput with a new macro illumination system allowing for thin film observation and defocus detection as well as detection of particulates and scratches on both front and backside.ドキュメント
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