説明
METRO構成
構成なしOEMモデルの説明
FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
検証済み
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116507
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116507
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
METRO構成
構成なしOEMモデルの説明
FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.ドキュメント
ドキュメントなし