説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
検証済み
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
31889
ウェーハサイズ：
4"/100mm, 6"/150mm, 8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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FOCUS FE III
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
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稼働ステータス:
不明
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4"/100mm, 6"/150mm, 8"/200mm
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