説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Metrology
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142308
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
IMPERIA
カテゴリ
Metrology
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142308
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.ドキュメント
ドキュメントなし