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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER
    説明
    Concentration
    構成
    PL Mapping
    OEMモデルの説明
    The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Metrology

    最終検証: 30日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    112393


    ウェーハサイズ:

    12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2000


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

    Metrology
    ヴィンテージ: 2000状態: 中古
    最終確認30日以上前

    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

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    検証済み
    カテゴリ
    Metrology
    最終検証: 30日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    112393


    ウェーハサイズ:

    12"/300mm


    ヴィンテージ:

    2000


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    Available
    説明
    Concentration
    構成
    PL Mapping
    OEMモデルの説明
    The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD

    SiPHER

    Metrologyヴィンテージ: 2000状態: 中古最終検証:30日以上前
    ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD SiPHER

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    SiPHER

    Metrologyヴィンテージ: 2002状態: 中古最終検証:60日以上前