説明
HG-CV System for EPI resistivity measurement構成
構成なしOEMモデルの説明
The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.ドキュメント
ドキュメントなし
SEMILAB
MCV 2500
検証済み
カテゴリ
Metrology
最終検証： 26日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
115098
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2010
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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不明
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HG-CV System for EPI resistivity measurement構成
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