説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
PROVE® the next generation registration and overlay metrology system was successfully introduced into the market in 2010. It enables in-die measurement capability by means of high-resolution 193 nm optics, as well as optimized illumination for best contrast and pellicle compatibility.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Overlay
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Deinstalled
製品ID：
128990
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ZEISS / CARL ZEISS
PROVE
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Overlay
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Deinstalled
製品ID：
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ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Available
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PROVE® the next generation registration and overlay metrology system was successfully introduced into the market in 2010. It enables in-die measurement capability by means of high-resolution 193 nm optics, as well as optimized illumination for best contrast and pellicle compatibility.ドキュメント
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