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ZEISS / CARL ZEISS PROVE
    説明
    REGISTRATION & OPTICAL CD
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    PROVE® the next generation registration and overlay metrology system was successfully introduced into the market in 2010. It enables in-die measurement capability by means of high-resolution 193 nm optics, as well as optimized illumination for best contrast and pellicle compatibility.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    ZEISS / CARL ZEISS

    PROVE

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    検証済み

    カテゴリ
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    最終検証: 30日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    73742


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    ZEISS / CARL ZEISS PROVE

    ZEISS / CARL ZEISS

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    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認30日以上前

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    最終検証: 30日以上前
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    不明


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    Available
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    PROVE® the next generation registration and overlay metrology system was successfully introduced into the market in 2010. It enables in-die measurement capability by means of high-resolution 193 nm optics, as well as optimized illumination for best contrast and pellicle compatibility.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    PROVE

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