説明
Wafer Surface Inspection構成
構成なしOEMモデルの説明
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
2131
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
105538
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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KLA
2131
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Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
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Used
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不明
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105538
ウェーハサイズ：
不明
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In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
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