説明
Wafer SurfaceInspection構成
HDDOEMモデルの説明
In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
2131
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 24日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
115260
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
1994
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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2131
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Defect Inspection
最終検証： 24日前
主なアイテムの詳細
状態：
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稼働ステータス:
不明
製品ID：
115260
ウェーハサイズ：
6"/150mm
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In late 1993, KLA introduced the new 2131 model for all pattern inspection which operates at up to twice the speed of the KLA 2130 and with higher sensitivity.ドキュメント
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