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KLA CANDELA CS10
    説明
    DEFECT INSPECTION
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    CANDELA CS10

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    検証済み

    カテゴリ

    Defect Inspection
    最終検証: 60日以上前
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    87188


    ウェーハサイズ:

    3"/75mm


    ヴィンテージ:

    不明

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA CANDELA CS10
    KLACANDELA CS10Defect Inspection
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

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    CANDELA CS10

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    最終検証: 60日以上前
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    不明


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    3"/75mm


    ヴィンテージ:

    不明


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    The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.
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    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証: 60日以上前
    KLA CANDELA CS10
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