メインコンテンツにスキップ
Moov logo

Moov Icon
KLA CANDELA CS10
    説明
    説明なし
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    CANDELA CS10

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ

    Defect Inspection
    最終検証: 60日以上前
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    65379


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
    すべて表示
    KLA CANDELA CS10
    KLACANDELA CS10Defect Inspection
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    CANDELA CS10

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ

    Defect Inspection
    最終検証: 60日以上前
    listing-photo-e8a735c643af43d9bc8a76e6a6511cf3-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/44127/e8a735c643af43d9bc8a76e6a6511cf3/05efc13dfe03464c836d8f4e0c7b9864_d1652b61bf5e463eb0b9d911410e185c45005c_mw.jpeg
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    65379


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    説明なし
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    同様のリスト
    すべて表示
    KLA CANDELA CS10
    KLA
    CANDELA CS10
    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証: 60日以上前
    KLA CANDELA CS10
    KLA
    CANDELA CS10
    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証: 60日以上前
    KLA CANDELA CS10
    KLA
    CANDELA CS10
    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証: 60日以上前