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構成なしOEMモデルの説明
The Candela CS920 is the first integrated surface and photoluminescence defect detection system for Silicon Carbide wafers. It has a UV laser for high sensitivity to defects and can detect and classify SiC epitaxy layer surface defects and crystal defects. These features help improve epitaxy yield.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
CANDELA CS920
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
99789
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Transaction Insured by Moov
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Refurbishment Services
Available
KLA
CANDELA CS920
検証済み
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Defect Inspection
最終検証： 12日前
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状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
99789
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不明
ヴィンテージ：
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The Candela CS920 is the first integrated surface and photoluminescence defect detection system for Silicon Carbide wafers. It has a UV laser for high sensitivity to defects and can detect and classify SiC epitaxy layer surface defects and crystal defects. These features help improve epitaxy yield.ドキュメント
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