説明
Surface particle detector構成
Wafer Surface InspectionOEMモデルの説明
The Surfscan 6200 is a tool that is capable of detecting defects as small as 0.09 µm with an 80% capture rate. It can locate, measure the size of, and count these defects to provide detailed information about the surface being analyzed.ドキュメント
ドキュメントなし
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
129624
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
KLA
SURFSCAN 6200
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
129624
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Surface particle detector構成
Wafer Surface InspectionOEMモデルの説明
The Surfscan 6200 is a tool that is capable of detecting defects as small as 0.09 µm with an 80% capture rate. It can locate, measure the size of, and count these defects to provide detailed information about the surface being analyzed.ドキュメント
ドキュメントなし