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ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII
    説明
    Inspectra
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    検証済み

    カテゴリ
    Elipsometry

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    105771


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    Elipsometry
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認30日以上前

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    検証済み
    カテゴリ
    Elipsometry
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    105771


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Available
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    Available
    説明
    Inspectra
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
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