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ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII
    説明
    Thickness Measurement
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    検証済み

    カテゴリ

    Elipsometry
    最終検証: 60日以上前
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    65963


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm


    ヴィンテージ:

    2002

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII
    ONTO / RUDOLPH / AUGUSTFOCUS FE VIIElipsometry
    ヴィンテージ: 2002状態: 中古
    最終確認4日前

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    カテゴリ

    Elipsometry
    最終検証: 60日以上前
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    Used


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    不明


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    8"/200mm


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